導電性構造材料のためのSQUIDを用いた非破壊検査技術に関する研究 Study on nondestructive inspection using SQUID for electrically conductive structure materials

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Author

    • 廿日出, 好 ハツカデ, ヨシミ

Bibliographic Information

Title

導電性構造材料のためのSQUIDを用いた非破壊検査技術に関する研究

Other Title

Study on nondestructive inspection using SQUID for electrically conductive structure materials

Author

廿日出, 好

Author(Another name)

ハツカデ, ヨシミ

University

早稲田大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第1772号

Degree year

2003-03-15

Note and Description

博士論文

制度:新 ; 文部省報告番号:甲1772号 ; 学位の種類:博士(工学) ; 授与年月日:2003/3/15 ; 早大学位記番号:新3535

text

13access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000234823
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000235371
  • Text Lang
    • jpn
  • NDLBibID
    • 000004204945
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
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