A study on light-induced degradation of minority carrier lifetimes in monocrystalline Cz-Si solar cells 単結晶Cz-Si太陽電池における少数キャリア寿命の光劣化に関する研究

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著者

    • 橋上, 洋 ハシガミ, ヒロシ

書誌事項

タイトル

A study on light-induced degradation of minority carrier lifetimes in monocrystalline Cz-Si solar cells

タイトル別名

単結晶Cz-Si太陽電池における少数キャリア寿命の光劣化に関する研究

著者名

橋上, 洋

著者別名

ハシガミ, ヒロシ

学位授与大学

東京農工大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第351号

学位授与年月日

2003-03-25

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000246130
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000246777
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000004354464
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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