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Accurate characterization of the high pressure environment by in situ X-ray diffraction study and its application to geophysical problems X線その場観察法による高圧環境の精密化と地球物理学への応用

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著者

    • 八木, 健彦 ヤギ, タケヒコ

書誌事項

タイトル

Accurate characterization of the high pressure environment by in situ X-ray diffraction study and its application to geophysical problems

タイトル別名

X線その場観察法による高圧環境の精密化と地球物理学への応用

著者名

八木, 健彦

著者別名

ヤギ, タケヒコ

学位授与大学

東京大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

甲第3861号

学位授与年月日

1976-03-29

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000298240
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000299046
  • NDL書誌ID
    • 000007731325
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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