Commercial silicon nitride powder surfaces analyzed by diffuse reflectance infrared Fourier transform (DRIFT) spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 市販窒化ケイ素粉末表面の拡散反射フーリエ変換赤外線分光(DRIFT)とX線光電子分光(XPS)による解析
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著者
書誌事項
- タイトル
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Commercial silicon nitride powder surfaces analyzed by diffuse reflectance infrared Fourier transform (DRIFT) spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
- タイトル別名
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市販窒化ケイ素粉末表面の拡散反射フーリエ変換赤外線分光(DRIFT)とX線光電子分光(XPS)による解析
- 著者名
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Tran Thi Thu Hien
- 著者別名
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チャン チ チュ ヒエン
- 学位授与大学
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長岡技術科学大学
- 取得学位
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博士 (工学)
- 学位授与番号
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甲第347号
- 学位授与年月日
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2005-08-31
注記・抄録
博士論文