Computational methods for identification of defect profiles arising in electromagnetic nondestructive testing 電磁非破壊検査における欠陥プロファイルの同定に関する計算手法

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著者

    • Nguyen Thanh Duong グェン タィン ズォン

書誌事項

タイトル

Computational methods for identification of defect profiles arising in electromagnetic nondestructive testing

タイトル別名

電磁非破壊検査における欠陥プロファイルの同定に関する計算手法

著者名

Nguyen Thanh Duong

著者別名

グェン タィン ズォン

学位授与大学

神戸大学

取得学位

博士 (学術)

学位授与番号

甲第5062号

学位授与年月日

2010-09-25

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000537510
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000539494
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000011137292
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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