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波長分散型PIXE法による環境試料分析における照射損傷に伴う元素の化学状態変化の研究

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著者

    • 多田, 勉 タダ, ツトム

書誌事項

タイトル

波長分散型PIXE法による環境試料分析における照射損傷に伴う元素の化学状態変化の研究

著者名

多田, 勉

著者別名

タダ, ツトム

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第7904号

学位授与年月日

2010-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000547635
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000549728
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 023313539
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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