【12/14(木)17時より】CiNiiの常時SSL化(HTTPS接続)について

Electrochemical and topographical imaging for nano/bio sample interfaces using SECM/AFM system 走査型電気化学・原子間力顕微鏡によるナノ材料/バイオサンプル界面の電気化学・形状像イメージング

この論文をさがす

著者

    • 上田, 晃生 ウエダ, アキオ

書誌事項

タイトル

Electrochemical and topographical imaging for nano/bio sample interfaces using SECM/AFM system

タイトル別名

走査型電気化学・原子間力顕微鏡によるナノ材料/バイオサンプル界面の電気化学・形状像イメージング

著者名

上田, 晃生

著者別名

ウエダ, アキオ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第8012号

学位授与年月日

2010-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000547707
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000549800
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 023314201
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ