【12/14(木)17時より】CiNiiの常時SSL化(HTTPS接続)について

ナノインデンテーション法を用いた薄膜基板間の界面強度評価

この論文をさがす

著者

    • 上月, 謙太郎 コウズキ, ケンタロウ

書誌事項

タイトル

ナノインデンテーション法を用いた薄膜基板間の界面強度評価

著者名

上月, 謙太郎

著者別名

コウズキ, ケンタロウ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第7948号

学位授与年月日

2010-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000547728
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000549821
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 023314298
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ