Formation mechanism of extended defects in AlN grown on SiC{0001} and their reduction by initial growth control SiC{0001}上AlN層における拡張欠陥の発生機構と初期成長制御によるその低減

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著者

    • 奥村, 宏典 オクムラ, ヒロノリ

書誌事項

タイトル

Formation mechanism of extended defects in AlN grown on SiC{0001} and their reduction by initial growth control

タイトル別名

SiC{0001}上AlN層における拡張欠陥の発生機構と初期成長制御によるその低減

著者名

奥村, 宏典

著者別名

オクムラ, ヒロノリ

学位授与大学

京都大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第16861号

学位授与年月日

2012-03-26

注記・抄録

博士論文

2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000555715
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000557887
  • DOI(JaLC)
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 023662188
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
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