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パターン光投影に基づく三次元画像計測に関する研究 Research of 3-D image measurement based on pattern projection techniques

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著者

    • 孫, 可 ソン, カ

書誌事項

タイトル

パターン光投影に基づく三次元画像計測に関する研究

タイトル別名

Research of 3-D image measurement based on pattern projection techniques

著者名

孫, 可

著者別名

ソン, カ

学位授与大学

福岡工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第30号

学位授与年月日

2012-03-20

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000561571
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000563785
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 023908192
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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