パターン光投影に基づく三次元画像計測に関する研究 Research of 3-D image measurement based on pattern projection techniques

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Author

    • 孫, 可 ソン, カ

Bibliographic Information

Title

パターン光投影に基づく三次元画像計測に関する研究

Other Title

Research of 3-D image measurement based on pattern projection techniques

Author

孫, 可

Author(Another name)

ソン, カ

University

福岡工業大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第30号

Degree year

2012-03-20

Note and Description

博士論文

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000561571
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000563785
  • Text Lang
    • jpn
  • NDLBibID
    • 023908192
  • Source
    • NDL ONLINE

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