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Microstructure, electrical property and reliability of Nb based ohmic contact electrodes on n-type 4H-SiC n型4H-SiCに対するNb基オーミック電極の微細組織、電気特性、および信頼性

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著者

    • 丁, 建華 ジョン, コンハ

書誌事項

タイトル

Microstructure, electrical property and reliability of Nb based ohmic contact electrodes on n-type 4H-SiC

タイトル別名

n型4H-SiCに対するNb基オーミック電極の微細組織、電気特性、および信頼性

著者名

丁, 建華

著者別名

ジョン, コンハ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第14662号

学位授与年月日

2012-03-27

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000563785
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000566006
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 024022278
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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