A study on low power VLSI design using fine grained leakage control 細粒度リーク制御による低電力VLSI回路設計に関する研究

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著者

    • 武田, 清大 タケダ, セイダイ

書誌事項

タイトル

A study on low power VLSI design using fine grained leakage control

タイトル別名

細粒度リーク制御による低電力VLSI回路設計に関する研究

著者名

武田, 清大

著者別名

タケダ, セイダイ

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第28692号

学位授与年月日

2012-09-27

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000582158
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000584550
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 025093863
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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