Terahertz spectroscopy of high density electron and hole systems in Si and Ge under the magnetic field and uniaxial stress テラヘルツ分光法による磁場下一軸性圧力下におけるSiおよびGeの高密度電子正孔系の研究
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著者
書誌事項
- タイトル
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Terahertz spectroscopy of high density electron and hole systems in Si and Ge under the magnetic field and uniaxial stress
- タイトル別名
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テラヘルツ分光法による磁場下一軸性圧力下におけるSiおよびGeの高密度電子正孔系の研究
- 著者名
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柳, 済允
- 学位授与大学
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東京大学
- 取得学位
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博士(理学)
- 学位授与番号
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甲第30148号
- 学位授与年月日
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2014-03-24
注記・抄録
学位の種別:課程博士
審査委員会委員 : （主査）東京大学准教授 岡本 徹, 東京大学教授 常行 真司, 東京大学教授 末元 徹, 東京大学准教授 秋山 英文, 東京大学准教授 溝川 貴司
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