Study on Impact of Random Telegraph Noise on Scaled MOSFETs ランダム・テレグラフ・ノイズの微細MOSFETへの影響に関する研究
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著者
書誌事項
- タイトル
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Study on Impact of Random Telegraph Noise on Scaled MOSFETs
- タイトル別名
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ランダム・テレグラフ・ノイズの微細MOSFETへの影響に関する研究
- 著者名
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手賀, 直樹
- 著者名
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Tega, Naoki
- 学位授与大学
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筑波大学 (University of Tsukuba)
- 取得学位
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博士（工学）/ Doctor of Philosophy in Engineering
- 学位授与番号
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甲第6820号
- 学位授与年月日
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2014-03-25
注記・抄録
2013
【要旨】
目次
- 2016-02-01 再収集 (2コマ目)
- 2017-03-02 再収集 (3コマ目)
- 2017-05-03 再収集 (4コマ目)
- 2017-10-02 再収集 (5コマ目)
