マイクロ波 ミリ波帯における複素誘電率測定

収録刊行物

  • エレクトロニクス セラミクス

    エレクトロニクス セラミクス 19, 20-28, 1988

被引用文献:  2件中 1-2件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    80003916698
  • 資料種別
    雑誌論文
  • データ提供元
    CJP引用 
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