低加速電圧走査型電子顕微鏡によるSCLの汚れの観察

• 渡部保男

収録刊行物

• 日コレ誌

  日コレ誌 30 162-171, 1988

詳細情報

• CRID: 1571417126625715968
• NII論文ID: 80004204102
• Web Site: https://search.jamas.or.jp/link/ui/1989200079
• データソース種別:
  • CiNii Articles