Thermal stability and electrical conduction behavior of coevaporated WSi_<2±x>thin films
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収録刊行物
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- J. Appl. Phys.
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J. Appl. Phys. 64 354-364, 1988
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1570572701689215488
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- NII論文ID
- 80004279373
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- NII書誌ID
- AA00693547
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- データソース種別
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- CiNii Articles