Pressure- induced changes in L_<III> x-ray-absorption near-edge structure of CeO_2 and CeF_2 : Relevance to 4f-electronic structure
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収録刊行物
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- Phys. Rev. B
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Phys. Rev. B 38 10174-10177, 1988
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571698601601004288
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- NII論文ID
- 80004349160
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- NII書誌ID
- AA00362255
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- データソース種別
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- CiNii Articles