Ultrastable emission from a metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor-structured Si emitter tip
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収録刊行物
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- Appl. Phys. Lett.
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Appl. Phys. Lett. 69 1577-1578, 1996
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573668925595987712
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- NII論文ID
- 80009169281
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- NII書誌ID
- AA00543431
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- データソース種別
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- CiNii Articles