Analysis of delay time instability according to the operating fraquency in field shield isolated SOI circuits
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収録刊行物
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- IEEE Trans. Electron Devices
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IEEE Trans. Electron Devices 45 (7), 1479-1486, 1998
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571135651708948352
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- NII論文ID
- 80010394803
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- NII書誌ID
- AA00667820
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- データソース種別
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- CiNii Articles