Atom-by-Atom Analysis of Microtip Emitter Surfaces by the Scanning Atom Probe

• NISHIKAWA O.

収録刊行物

• J. Vac. Sci. Technol. B

  J. Vac. Sci. Technol. B 17 608-, 1999

詳細情報

• CRID: 1574231876457871232
• NII論文ID: 80011073077
• データソース種別:
  • CiNii Articles