In situ observation of nickel metal-induced lateral crystallization of amorphous silicon thin films

• MIYASAKA M.

収録刊行物

• Appl. Phys. Lett.

  Appl. Phys. Lett. 80 (6), 944-946, 2002

詳細情報

• CRID: 1570291225109495808
• NII論文ID: 80012901623
• データソース種別:
  • CiNii Articles