高精度光応用計測技術の開発 (第1報)-光切断法による3次元計測-

• 倉本丈久

収録刊行物

• 広島県立東部工業技術センター研究報告

  広島県立東部工業技術センター研究報告 2002

詳細情報

• CRID: 1571698601678099840
• NII論文ID: 80015712405
• データソース種別:
  • CiNii Articles