Efficient test access mechanism optimization for system-on-chip

収録刊行物

IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst.  

IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. 22(5), 635-643, 2003 

被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    80015914456
  • 資料種別 :
    雑誌論文
  • 収録DB :
    CJP引用