Test Access Mechanism Optimization, Test Scheduling, and Tester Data Volume Reduction for System-on-Chip

各種コード

• NII論文ID(NAID) :

  80016370439

• 資料種別 :

  雑誌論文

• DOI :

  10.1109/TC.2003.1252857

• 収録DB :

  CJP引用