X-ray microanalysis in the electron microscope

著者

• Chandler, John A.

書誌事項

X-ray microanalysis in the electron microscope

John A. Chandler

（Practical methods in electron microscopy / edited by Audrey M. Glauert, v. 5, pt. 2）

North-Holland, c1977

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA04434764
• ISBN:
  • 0720406072
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Amsterdam
• ページ数/冊数: p. 317-547
• 大きさ: 23 cm
• 親書誌ID:
  • BA00197962