書誌事項

Atom-probe field ion microscopy and its applications

Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering

(Advances in electronics and electron physics : supplement / edited by L. Marton ; assistant editor, Claire Marton ; editorial board, T. E. Allibone ... [et al.], Supplement 20)

Academic Press, c1989

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注記

Bibliography: p. 275-292

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA06995219
  • ISBN
    • 0120145820
  • LCCN
    63012814
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Boston
  • ページ数/冊数
    vii, 299 p
  • 大きさ
    24 cm
  • 分類
  • 親書誌ID
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