1990 ASNT Fall Conference and Quality Testing Show : NDT for today's applications, Seallte Sheraton and Towers, Seattle, Washington, October 8-12, 1990

著者

    • ASNT Fall Conference

書誌事項

1990 ASNT Fall Conference and Quality Testing Show : NDT for today's applications, Seallte Sheraton and Towers, Seattle, Washington, October 8-12, 1990

American Society for Nondestructive Testing, 1990

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注記

Includes bibliographical references

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA11620645
  • ISBN
    • 0931403251
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Columbus, Ohio
  • ページ数/冊数
    284 p.
  • 大きさ
    28 cm
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