Quantitative X-ray diffractometry

著者

• Zevin, Lev S.
• Kimmel, Giora
• Mureinik, Inez

書誌事項

Quantitative X-ray diffractometry

Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik

Springer, c1995

注記

Bibliography: p. 355-364

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA27038245
• ISBN:
  • 0387945415
• LCCN: 95019428
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York ; Tokyo
• ページ数/冊数: xvii, 372 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC482.D5
  • DC20 : 545/.81
• 件名:
  • LCSH : X-rays -- Diffraction
  • LCSH : X-rays -- Diffraction -- Industrial applications