Automation in electronic test equipment

著者

• Goodman, David
• New York University

書誌事項

Automation in electronic test equipment

edited by David M. Goodman

New York University, 1966-1967

• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

注記

v. 1,2: Summer of 1960 and 1961

v. 3,4,5: August 29 - September 2, 1966

収録内容

• v. 3,4,5. Built-in test and continuous monitoring

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA29374141
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: 5 v.
• 大きさ: 28 cm