書誌事項

電子顕微鏡による摩耗解析

(海外研究開発レポート, Data No. FK-173(11))

日本技術資料センター, 1985

タイトル読み

デンシ ケンビキョウ ニ ヨル マモウ カイセキ

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA35830631
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    1冊
  • 親書誌ID
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