Design, test, integration and packaging of MEMS/MOEMS 2003 : DTIP 2003 : 5-7 May, 2003, Cannes, France
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Design, test, integration and packaging of MEMS/MOEMS 2003 : DTIP 2003 : 5-7 May, 2003, Cannes, France
IEEE, c2003
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DTIP 2003
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注記
"IEEE Catalog Number 03EX713"--T.p. verso
"2003 proceedings, Fifth Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS"--T.p. verso
Includes bibliographical references and partial author index