はじめてのデバイス評価技術

著者

• 二川, 清 ニカワ, キヨシ

書誌事項

はじめてのデバイス評価技術

二川清著

森北出版, 2012.9

第2版

タイトル読み

ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ

注記

初版: 工業調査会, 2000年刊

参考文献・引用文献: p169-175

内容説明・目次

内容説明

半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。

目次

• 第１章　半導体デバイスの特徴
• 第２章　デバイス評価技術概要
• 第３章　信頼性試験
• 第４章　故障解析
• 第５章　寿命データ解析
• 第６章　具体例・応用事例

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB10206954
• ISBN:
  • 9784627774421
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: xi, 179p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
  • NDC9 : 549.8
• 件名:
  • BSH : 半導体