GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御

Author(s)

• 櫻井, 利夫 サクライ, トシオ

Bibliographic Information

GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御

櫻井利夫研究代表者

（科学研究費補助金(基盤研究(S))研究成果報告書, 平成14年度-平成17年度）

[櫻井利夫], 2006.5

Other Title

平成14年度～平成17年度科学研究費補助金(基盤研究(S))研究成果報告書 : (課題番号14102010)

Title Transcription

GaNケイ ハンドウタイ ヘテロ コウゾウ ニオケル ヒョウメン カイメン ノ ゲンシ レベル ヒョウカ ト ブッセイ セイギョ

Note

文献あり

Details

• NCID: BB1031943X
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: engjpn
• Place of Publication: [仙台]
• Pages/Volumes: 67p
• Size: 30cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA7334635X