2014 IEEE International Test Conference : (ITC 2014) : Seattle, Washington, USA, 20-23 October 2014

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2014 IEEE International Test Conference : (ITC 2014) : Seattle, Washington, USA, 20-23 October 2014

IEEE, c2014

タイトル別名

CFP14ITC-POD

注記

"IEEE catalog Number: CFP14ITC-POD"

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB18581549
• ISBN:
  • 9781479947218
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 601 p.
• 大きさ: 28 cm