ナノ材料解析の実際

Author(s)

• 米澤, 徹 ヨネザワ, テツ
• 朝倉, 清高 アサクラ, キヨタカ
• 幾原, 雄一 イクハラ, ユウイチ

Bibliographic Information

ナノ材料解析の実際

米澤徹, 朝倉清高, 幾原雄一編著

講談社, 2016.6

Other Title

Practical nanomaterial analysis

Title Transcription

ナノ ザイリョウ カイセキ ノ ジッサイ

Note

編著者「朝倉清高」の「高」は「梯子高 (はしごだか) 」の置き換え

参考文献: 各章末

Description and Table of Contents

Table of Contents

• 第１部　Ｘ線・中性子線（Ｘ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）；顕微ＸＲＦ・顕微ＸＡＦＳ　ほか）
• 第２部　電子線・プローブ（走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）；集束イオンビーム‐走査型電子顕微鏡（ＦＩＢ‐ＳＥＭ）　ほか）
• 第３部　そのほかの分析手法（共焦点レーザースキャン顕微鏡（ＬＳＣＭ）；動的光散乱法による粒子径測定　ほか）
• 第４部　トピックス（ナノ粒子触媒評価；合金ナノ粒子評価　ほか）

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Details

• NCID: BB21496958
• ISBN:
  • 9784061543928
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: xii, 338p
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 501.4
  • NDC9 : 501.4
• Subject Headings:
  • BSH : ナノマテリアル