2020 IEEE International Test Conference (ITC 2020) : Washington, DC, USA, 1-6 November 2020

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2020 IEEE International Test Conference (ITC 2020) : Washington, DC, USA, 1-6 November 2020

IEEE, c2020

タイトル別名

CFP20ITC-POD

注記

"IEEE catalog number: CFP20ITC-POD"

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC12311254
• ISBN:
  • 9781728191140
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 573 p.
• 大きさ: 28 cm