半導体素子・ICの測定法

著者

• 川口, 清一 カワグチ, セイイチ
• 石野, 寛 イシノ, ヒロシ

書誌事項

半導体素子・ICの測定法

川口清一, 石野寛著

（Semi Conductor Series, 7）

日刊工業新聞社, 1970.12

タイトル読み

ハンドウタイ ソシ IC ノ ソクテイホウ

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN04816988
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 2, 7, 162, 4p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC6 : 549
  • NDLC : ND371
• 件名:
  • NDLSH : トランジスタ
• 親書誌ID:
  • BN00566914