菅沼 克昭 SUGANUMA Katsuaki

ID:9000045427618

大阪大学産業科学研究所 The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University (2012年 CiNii収録論文より)

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論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • コンフォーマルコーティングによるウィスカ成長性抑制効果の評価

    中川 剛 , 根本 規生 , 山田 敏行 [他] , 菅沼 克昭

    地上用電子部品の鉛フリー化に伴い,鉛を含む電子部品が枯渇しているため宇宙機器においても鉛フリー部品を使用せざるを得ない状況になっている.鉛フリー部品を使用した場合,錫ウィスカが成長することにより,短絡の懸念がある.そこで,宇宙機器の高信頼性を確保する施策として,電子部品が実装されたプリント回路基板への絶縁や防湿を目的として使用しているコンフォーマルコーティングに着目し,錫ウィスカ成長性抑制効果を評 …

    電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. C 95(11), 343-350, 2012-11-01

    参考文献4件

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