大谷 碧 Otani M.

ID:9000254201344

鉄道技術研究所第二部 Railway Technical Research Institute in Japan (1947年 CiNii収録論文より)

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  • 平板熔接歪の研究

    大谷

    平板V型衝合接手を多層盛熔接すれば板の繼析く歪を生ずると同時に熔接綿の縱曲りを伴ふ歪をも生ずることは既に指摘されて居る所であるが、後者の生因に關してはまだ定説がない樣である。筆者は本論文に於て板内の歪エネルギを考察しエネルギ法を利用して理論的に該歪の近似値を計算した。此の際多層盛熔接の結果として接手部佐板厚方向に布し板に繼析を生ぜしめ様とする應力に基く歪エネルギ値(V<SUB>3< …

    溶接学会誌 16(10), 347-360, 1947

    J-STAGE DOI

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