中村 茂昭 Nakamura Sigeaki

ID:9000254207013

東洋オプトデバイス(株) Toyo opto Device Co., LTD (1989年 CiNii収録論文より)

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論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • 蒸着薄膜および電着メッキ層の残留応力解析

    豊田 政男 , 吹田 義一 , 平野 俊雄 , 中村 茂昭 , 山本 斌曠 , 草薙 一正 , 三谷 英機

    This paper is concerned with the theoretical evaluation of residual stresses in multilayered structures fabricated on substrates, such as evaporated films and plating films.<BR>Firstly, the anal …

    溶接学会論文集 7(4), 543-548, 1989

    J-STAGE

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