史 虹波 Shi Hongbo

ID:9000264275381

首都大学東京学術情報基盤センター Library and Academic Information Center, Tokyo Metropolitan University (2014年 CiNii収録論文より)

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論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • 異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察 (ディペンダブルコンピューティング)

    中山 裕太 , 新井 雅之 , 虹波 [他] , 岩崎 一彦

    半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.本稿では,欠陥レベルを高精度に見積もるための一手法として,異なる欠陥粒径とビアオープン欠陥を考慮した重み付き故障カバレージの算出法について検討する.レイアウトデータにおける任意の配線に対して,複数の欠陥粒径を仮定してクリティカルエリア解析を実行する.適用する欠陥粒径の個数とサイズを変化させ …

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(430), 31-36, 2014-02-10

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