松井 浩明 MATSUI Hiroaki

ID:9000300661883

ルネサス R&D Division, Renesaselectronics Corporation (2014年 CiNii収録論文より)

同姓同名の著者を検索

論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • 磁性薄膜を用いたTEGチップ内の伝導および誘導ノイズ結合解析 (環境電磁工学)

    室賀 翔 , 樊 鵬 , 田中 聡 [他] , 北村 智満 , 松井 浩明 , 東 直矢 , 島崎 俊介 , 上坂 純平 , 永田 真 , 山口 正洋

    HE級のRFIC内で生じる誘導および伝導ノイズ結合パスを解析するため,Full wave3次元電磁界および回路解析を統合した統合モデルを用いた解析環境を構築した.構築した解析環境より,チップ上のノイズ結合の主要因は誘導および伝導ノイズ結合であることを明らかにした.更に磁性薄膜に因るノイズ抑制メカニズムを,構築した解析環境より考察した.

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(93), 55-58, 2014-06-20

ページトップへ