古澤 裕一 Furusawa Yuuichi

ID:9000303988212

(株)日立製作所 Hitachi, Ltd (2013年 CiNii収録論文より)

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  • 2711 複数はんだバンプの疲労き裂進展挙動の予測

    寺崎 健 , 谷江 尚史 , 中塚 哲也 , 倉内 智枝 , 山下 忠幸 , 古澤 裕一 , 今井 雅則

    BGAパッケージにある数十個のはんだ接合部の疲労寿命を一度に定量的に予測できる疲労き進展解析技術を開発した。温度サイクル試験における疲労寿命を予測し,予測結果は実験結果と良く一致した。

    計算力学講演会講演論文集 2013(26), "2711-1"-"2711-2", 2013-11-02

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