泉 隼人 IZUMI Hayato

ID:9000303989365

Nagoya Institute of Technology (2013年 CiNii収録論文より)

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論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • OS1516 異なる環境下におけるシリコンウェハの曲げ疲労挙動

    ウダヤクマール アラス , 隼人 , 神谷 庄司

    The fatigue behavior of single crystal silicon wafer was examined under bending load in two different environments, as in lab air, in hydrogen gas environment to see the effect of hydrogen (H_2) on th …

    M&M材料力学カンファレンス 2013, "OS1516-1"-"OS1516-3", 2013-10-12

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