阿萬 裕久 AMAN Hirohisa

ID:9000303997408

愛媛大学総合情報メディアセンター Center for Information Technology, Ehime University (2015年 CiNii収録論文より)

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論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • テストケースのクラスタリングと0–1計画モデルを組み合わせた回帰テストの効率化

    阿萬 裕久 , 佐々木 愛美 , 中野 隆司 , 小笠原 秀人 , 佐々木 隆志 , 川原 稔

    開発中のソフトウェアシステムに変更が施された場合,利用可能なすべてのテストケースを再実行してデグレードの有無を確認するのが理想である.しかし,現場においてテストに投入可能な工数は限られており,テストケースの優先順位付けを行って一部のもののみを再実行するのが現実解となっている.近年,そのための支援技術の一つとして,各テストケースにおける不具合検出の期待度(優先度)と実行工数の両方を総合的に考慮し,0 …

    コンピュータ ソフトウェア 32(3), 3_111-3_125, 2015

    J-STAGE

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