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  • 極薄熱酸化膜中の金属ナノクリスタルの形成と単一電子帯電効果の観測

    中島 安理, 二木 俊郎, 中尾 宏, 臼杵 達也, 堀口 直人, 横山 直樹 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス 98 (28), 9-14, 1998-04-23

    ...これらのSnまたはSbナノクリスタルを含む構造を用いたダイオードの電流-電圧特性において、4.2Kで明瞭なクーロステアケースと0V近傍の電流抑制領域を観測した。この電流抑制領域は高温(77K)まで観測され、本研究において単一電子デバイスの実用化への可能性を示した。...

    参考文献5件

  • 極薄熱酸化膜中の金属ナノクリスタルの形成と単一電子帯電効果の観測

    中島 安理, 二木 俊郎, 中尾 宏, 臼杵 達也, 堀口 直人, 横山 直樹 電子情報通信学会技術研究報告. SDM, シリコン材料・デバイス 98 (30), 9-14, 1998-04-23

    ...これらのSnまたはSbナノクリスタルを含む構造を用いたダイオードの電流-電圧特性において、4.2Kで明瞭なクーロステアケースと0V近傍の電流抑制領域を観測した。この電流抑制領域は高温(77K)まで観測され、本研究において単一電子デバイスの実用化への可能性を示した。...

    参考文献5件

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