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表紙
本文:
CiNii
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目次
本文:
CiNii
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BIST用TPGにおけるATPGテストベクトルの利用
本文:
CiNii
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1-8
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FPGAs Complete Fault Diagnosis Based on Binary Tree BIST Method
本文:
CiNii
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9-16
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BIST向け検査点挿入方式のFF共用に関する考察
本文:
CiNii
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17-24
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内蔵プロセッサを利用したマイクロコントローラのテスト高速化に関する考察
本文:
CiNii
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25-32
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メモリ仮想テスタ技術と今後の展開
本文:
CiNii
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33-39
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DRAM混載ロジックLSI現状と課題
本文:
CiNii
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41
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[OTHERS]
本文:
CiNii
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