検索結果2件中 1-2 を表示

  • BAE GeumJong ID: 9000001838761

    System LSI Division, Semiconductor Business, Samsung Electronics Co., Ltd. (2006年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • Retention Mechanism of Localized Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Embedded NOR Device (2006)
  • Bae GeumJong ID: 9000401756654

    CiNii収録論文: 1件

    • Retention Mechanism of Localized Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Embedded NOR Device (2006)
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